NEDO-AIST-OECD 合同 工業ナノ材料のリスク評価に関する国際シンポジウム（仮称）
International Symposium on Risk Assessment of Manufactured Nanomaterials
日時：2008年４月23日（水） 9:30 − 17:45
会場：ニッショーホール（東京都港区虎ノ門２丁目９番１６号：700人規模）
１．OECDにおけるナノ材料リスク評価の活動紹介
福島隆（化学物質管理課）：OECDでのナノ材料リスクに関する取組み
Jim Willis（EPA, WHO WP議長）：OECDの活動とナノNEDOへの期待
２．ナノNEDOプロジェクトの全体紹介
中西準子（産総研、化学物質リスク管理, ナノNEDO pj-PL）
３．サンプル調製とキャラクタリゼーションについての報告
遠藤茂寿（産総研、環境管理技術）：液中分散と粒径分布測定技術
山本和弘（産総研、計測フロンティア）：ナノ粒子の検出、測定のための電顕技術
A氏【交渉中】：ISO/OECDにおけるキャラクタリゼーション
４．有害性評価についての報告
David Warheit (DuPont) ：米国における有害性試験研究
François Rossi（JRC, EU）：EUの有害性試験研究
島田学（広島大学）：吸入試験のための気中分散技術の開発
森本泰夫（産業医大）：ナノ粒子の吸入試験結果
小林憲弘（産総研、化学物質リスク管理）：in vivoでのサイズ効果試験結果
吉田康一（産総研、ヒューマンストレス）：in vitro試験結果
５．暴露評価，リスク評価・管理
Terry Medley (BIAC, DuPont)：米国での産業界の取組み
Andrew Maynard (Woodrow Wilson)：米国での暴露評価，リスク管理
蒲生昌志（産総研化学物質リスク管理）：暴露・リスク評価の研究結果
６． 田中勇武（産業医大）：挨拶と総括
以上